线宽测试仪丨光调制分析仪丨调制器 卓越光子-专注于光电解决方案

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  線寬測試儀及RIN噪聲分析儀 OE4000

  廠商：美國OEwaves公司

  簡介：該系統利用零差測試法，測量覆蓋范圍大，無需額外的超窄激光器，同時系統還能夠測試相位/頻率噪聲及相對強度噪聲（RIN）。
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  RIN噪聲分析儀 OE4001

  廠商：美國OEwaves公司

  簡介：美國OEwaves公司的激光線寬/頻率噪聲測試儀利用零差方法進行自動測量，能夠準確測試超低相位噪聲的激光器光源。通過方便快捷的軟件界面進行操作，能夠瞬間測試3Hz以下線寬的激光器，無需復雜的搭建系統。該系統利用零差測試法，測量覆蓋范圍大，無需額外的超窄激光器，同時系統還能夠測試相位/頻率噪聲及相對強度噪聲（RIN）。
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  W波段超低相位噪聲分析儀 OE8000

  廠商：美國OEwaves公司

  簡介：美國OEwaves公司的相位噪聲分析儀利用特有的零差法技術，可快速、完整測試RF或微波信號光源的相位噪聲。無需其它低噪聲光源，操作便捷。